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一、应用概述
矿石是矿产冶炼的原材料，其元素含量的测定对于选矿以及冶炼加工至关重要。各类矿石中主量元素以及微量元素的测定通常采用化学滴定、AA、ICP、ICP-MS等多种分析方法，操作过程繁琐，耗时耗力。单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪与快速基本参数法正在改变这一现状，针对各类矿石样品，同步分析其主量元素以及杂质元素含量，检测速度快，减少人力物力消耗，为矿产开发与冶炼企业带来新的元素分析方法。
二、方法原理
1)单色化聚焦激发技术原理
单波长X射线荧光光谱仪（HSXRF）采用全聚焦型双曲面弯晶技术，全聚焦型双曲面弯晶将X射线光管出射谱中靶材特征射线单色化衍射并聚焦到样品一点，大幅降低X射线管出射谱中连续散射线背景对样品元素谱的干扰，提升元素检测信噪比，相对传统XRF检出限降低1-2个数量级，单波长X射线荧光光谱仪从而实现对微量和痕量元素的检测分析。
2)快速基本参数法
快速基本参数法(FastFP2.0)通过对X射线荧光物理学明确的物理现象建立基本参数库和系列数学模型，经过大量计算直接得到样品中各元素的含量，解决了XRF基体效应、元素间吸收增强效应、谱线重叠干扰、探测器各种效应等对定量分析的复杂性和不确定性，实现欠缺标准样品情况下的样品元素定量分析。快速基本参数法（FastFP）提升XRF样品适应性与定量精度。
三、性能数据
1)矿石种类与元素类型
本方案可以测试铬矿，镍矿，铜矿和锰矿四种类型矿石，