X射线荧光光谱镀层测厚仪

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金属电镀测厚X荧光光谱仪

这是一款X射线荧光光谱仪原理的金属镀层测厚分析仪,满足镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铬,镀锌,镀铜等膜厚分析。

产品优势和特点

*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面

*易于使用,一键操作,即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果

*有助于识别镀层成分的创新型功能

*机身结构小巧结实,外形十分漂亮,适合放置于陈列展室

*按下按钮的数秒之内,即可得到有关样件镀层厚度的精确结果

*使用PC机和软件,可以迅速方便地制作样件的检验结果证书

*用户通过摄像头及舱内照明系统,可看到样件测试位置,提升了用户测试信心

*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络,检测结果易于查看和分享

*有X射线防护锁,只有在封闭状态下才发射X射线,安全、可靠的保证客户使用

测试样品示例

仪器应用演示

1、打开仪器上盖

2、放入样品

XRF镀层分析仪硬件性能及优势

元素分析范围从硫(S)到铀(U)

同时可以分析几十种以上元素,五层镀层

分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.um厚度样品

分析含量一般为ppm到99.9%。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

仪器配置

高压电源0~50KV

光管管流0μA~μA

数字多道分析器

摄像头

滤光片可选择多种定制切换

美国进口半导体探测器

测试时间可调10sec~sec

仪器环境要求

环境温度15°C~30°C

相对湿度35%~70%

电源要求ACV±5V,50/60HZ




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